EDX-serien x-fluorescensspektrometer，EnergifärgningXStrålfluorescensspektrometerTillämpas påRoHS & WEEEAnalys av instruktionerMåtning av olika metallfilm tjocklek, industriell beläggning tjocklek mätning, halogen instruktionerClElementanalysAnalys av mineraler, råvaror, magnetiska magnetiska medier och halvledare samt olika sammanslutningarAnalys av guld och ädelmetaller.
EDX-serien x-fluorescensspektrometerHuvudfunktioner
●Analys av elementområdenS-U

●Koncentrationsområde för analyselement 2ppm—100%
●Kontinuerlig stabilitet8TidsmätningRSD<0.25%
● ROHS/WEEEDetekteringstid100-120sekunder

●USA importerar elektrisk kylningSi（Pin）Detektor

●Elektrisk kylningSi（Pin）Detektor Kristallyta15mm2Upplösning<155eV
●Heldigital pulsprocessorteknik

●Utmärkt toppryggförhållande, extremt hög känslighet för spåranalys

● 50KV,50WSjälvskyddX-Strålrör

●Intelligent växlingsteknik för kompositfilter

Egenskaper:

☆Exakt analys av bly i klor och färg

☆IntegreraFPlag,AlphaFaktorer, erfarenhetsfaktor

☆Säker kopplingsenhet, mjuk och hård kombination av strålningsdesign

☆Enkel hantering med ett klick

☆Intelligent programvara för automatisk parametrinställning och val av filter

☆XStrålrör övertemperatur skydd

☆Elektronisk kylning utan flytande kväve och andra förbrukningsvaror

Tekniska specifikationer